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　　x射線熒光鍍層測厚儀是一款專業(yè)用于鍍層厚度測量的儀器。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。但是由于測量對(duì)象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測量誤差，那么，x射線熒光鍍層測厚儀的哪些測量誤差是不可避免的呢？儀器設(shè)備引入的測量誤差主要包括以下幾方面：
 

　　1、器測量示值誤差
 

　　2、儀器測量小分辨率
 

　　3、儀器使用的校準(zhǔn)片
 

　　4、儀器對(duì)試樣表面的不連續(xù)敏感，太靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處測量時(shí)，磁場將會(huì)發(fā)生變化，測量結(jié)果將不可靠。因此，不要在靠近不連續(xù)的部位如邊緣、孔洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
 

　　5、金屬機(jī)械加工方向?qū)Σ牧系拇盘匦詴?huì)產(chǎn)生較大影響，當(dāng)使用雙極式測頭或被磨損而不平整的單極式測頭測量時(shí)，測量結(jié)果會(huì)受到磁性基體金屬機(jī)械加工(如軋制)方向的影響。因此，在試樣上測量時(shí)應(yīng)使測頭的方向與在校準(zhǔn)時(shí)該測頭所取方向一致。
 

　　6、金屬材料由于磨削等加工方式可能帶來剩磁，影響儀器測量，試樣測量前應(yīng)進(jìn)行消磁處理，并在互為180°的兩個(gè)方向上進(jìn)行測量。
 

　　7、基體金屬曲率的變化將影響測量結(jié)果，曲率半徑越小，對(duì)測量結(jié)果的影響越大。當(dāng)測量曲率較小的試樣時(shí)，應(yīng)通過化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣的無膜部分作為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。
 

　　8、基體金屬表面粗糙度將影響測量結(jié)果，粗糙度程度增加，對(duì)測量結(jié)果的影響增大。應(yīng)對(duì)試樣基體多個(gè)位置進(jìn)行零點(diǎn)校正，并在試樣不同位置上進(jìn)行多次測量，測量次數(shù)至少應(yīng)增加到5次或以上，以減小影響。